화학공학소재연구정보센터
Korean Journal of Materials Research, Vol.9, No.9, 926-931, September, 1999
Sn-3.5Ag/Alloy42 리드프레임 땜납접합의 미세조직과 접합특성에 관한 연구
A Study on the Microstructure and Adhesion Properties of Sn-3.5Ag/Alloy42 Lead-Frame Solder Joint
초록
Sn-3.5g 무연합금을 Cu 및 Alloy42 리드프레임에 납땜접합 (solder joint)하고 미세조직, 젖음성, 전단강도, 시효 효과를 측정하여 비교하였다. Cu의 경우, 땜납의 Sn기지상안에 Ag(sub)3Sn과 Cu(sub)6Sn(sub)5상이, 그리고 땜납/리드프레임의 경계면에는 1 2μm 두께의 Cu(sub)6Sn(sub)5 상이 형성되었다. Alloy42의 경우, 기지상내에 낮은 밀도의 Ag 3 Sn 상만이, 그리고 계면에는 0.5 1.5μm 두께의 FeSn 2 이 형성되었다. 한편, Cu에 비해 Alloy42 리드프레임에서 퍼짐면적은 크고 접촉각은 작아 더 우수한 젖음성을 나타내었으나, 전단강도는 35%, 연산율은 75%로 낮았다. 180 ? C 에서 1주일간 시효처리 후, Cu 리드프레임에는 계면 η?Cu 6 Sn 5 층외에 ξ?Cu 3 Sn 층이 성장하였고, Alloy42 리드프레임에는 기지상내에 Ag 3 Sn 이 구형으로 조대하게 성장하였고, 계면에는 FeSn 2 층만이 약 1.5μm 로 성장하였다.
The microstructure, wettability, shear strength and aging effect of Sn-3.5Ag/Cu and Alloy42 lead-frame solder joints were measured for comparison. In the case of Sn-3.5Ag/Cu, Ag 3 SnandCu 6 Sn 5 phases in the matrix Sn and 1 2μm thick Cu 6 Sn 5 phase at the interface of solder/lead-frame were formed. In the case of Sn-3.5Agl Alloy42, only AgJSn phase of low density in the matrix Sn and 0.5 1.5μm thick FeSn 2 , phase at the interface of solder/leadframe were formed. Comparing to Cu, Alloy42 showed wider area of spread and smaller contact angle, thus better wet­tability. But shear strength and ductility of Alloy 42 solder joints were only 33% and 75% of those of Cu, respectively After aging at 180 ? C for 1 week, ξ?Cu 3 Sn layer on η?Cu 6 Sn 5 layer was formed on Cu lead-frame, while coarsened cir­cular Ag 3 Sn phase in the matrix and thickened FeSn 2 , at the interface were formed on Alloy42 lead- frame.
  1. Eletronic Materials Handbook, Packaging/ ASM, v.1, pp.538, 1989 (1989)
  2. Ray U, Artaki I, Gordon HM, Vianco PT, J. Electron. Mater., 23(8), 779 (1994)
  3. Bae KS, Sprecher AF, Conrad H, Jung DY, Proc. Of ISTFA'88(ASM), 53 (1988)
  4. Moriya Y, Yamade Y, Shinya R, IEEE Trans. CPMT-B, 21(4), 394 (1998)
  5. Wood EP, Nimmo KL, J. Electron. Mater., 23(8), 709 (1994)
  6. 윤승욱, 이병주, 이혁모, 한국재료학회지, 7(4), 303 (1997)
  7. 서윤종, 이경구, 이도재, 한국재료학회지, 8(9), 807 (1998)
  8. 홍순국, 주철홍, 강정윤, 김인배, 한국재료학회지, 8(11), 1011 (1998)
  9. Yang W, Messler RW, Jr., Felton LE, J. Electron. Mater., 23(8), 765 (1994)
  10. Flanders DR, Jacobs EG, Pinizzotto RF, J. Electron. Mater., 26(7), 883 (1997)
  11. 반도체 산업, 반도체 재표 품목별 동향, 5(7), 37 (1996)
  12. 한정남, 변수일, 대한금속학회지, 36(11), 1823 (1998)
  13. May Z, Morris JW, J. Electron. Mater., 21(6), 599 (1992)
  14. Kim DH, Kim JK, Sham ML, Hwang P, Metals. Materials, 4(4), 812 (1998)
  15. Matals Handbook(9th ed.)/ ASM, v.9, pp.455, 1985 (1985)
  16. Yang W, Felton LE, Messler RW, Jr., J. Electron. Mater., 24(10), 1465 (1995)
  17. Massalski TB, Binary Alloy Phase Diagrams(2nd ed.), 94 (1977)
  18. Loomans ME, Vaynman S, Ghosh G, Fine ME, J. Electron. Mater., 23(8), 741 (1994)