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Influence of growth temperature on characteristics of zinc oxide thin film transistors deposited by Atomic Layer Deposition process
조성운, 조형균
한국재료학회 2013년 봄 학술대회 |
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UVO-ozone 처리에 따른 IGZO TFT의 안정성 연구 (Investigation of IGZO TFT stability for UVO-ozone treatment)
이민정, 박지현, 이수정, 이태일, 명재민
한국재료학회 2013년 봄 학술대회 |
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Effects of Al composition on performance and stability of AZO/ZnO thin film transistors fabricated by Atomic Layer Deposition method
김소희, 조형균
한국재료학회 2013년 봄 학술대회 |
| 27 |
Cross-linked fluorinated polymer dielectric for enhanced stability of solution-processable organic field effect transistors(OFETs)
김지예, 안태규, 박선욱, 박찬언
한국고분자학회 2012년 가을 학술대회 |
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Bias-Stress-Induced Charge Trapping in Organic Transistors
조길원
한국고분자학회 2012년 가을 학술대회 |
| 25 |
Post-annealing temperature effect of n-type organic semiconductor/polymer interface on its stability: Bias stress and interfacial-trap density of state
박지훈, 이희성, 이준영, 임성일
한국고분자학회 2012년 봄 학술대회 |
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Mechanism of Bias Stress Induced Charge Trapping at Polymer Gate-Dielectric in Organic Transistors
최현호, 조길원
한국고분자학회 2012년 봄 학술대회 |
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Solution processable organic field effect transistors using fluorinated polymer dielectric
김지예, 안태규, 박선욱, 김래호, 김유진, 박찬언
한국고분자학회 2012년 봄 학술대회 |
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a-IGZO TFT의 채널 두께 변화에 따른 소자 안정성 연구 (Investigation of device stability for thickness-varied a-IGZO TFT)
이민정, 박지현, 이수정, 이태일, 명재민
한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
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The influence of hafnium doping on bias stability in zinc-tin oxide thin film transistors
강유진, 한동석, 문대용, 박재형, 이상호, 신소라, 박종완
한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
