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원자력 현미경(Scanning Probe Microscopy)을 이용한 표면처리에 따른 ITO ( Indium Tin Oxide) 표면의 전기적 미세구조 및 일함수 관찰|Observation of surface electronic structures and workfunction of ITO ( Indium Tin Oxide ) by surface treatment using SPM ( Scanning Probe Microscopy )
김찬형, 신현정, 이봉기
한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
