| 번호 | 제목 |
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성장온도에 따른 Si 박막전극의 충방전 특성 신원철, 이봉기, 조규봉, 김기원, 조권구, 안효준 한국재료학회 2006년 봄 학술대회 |
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PbZrO3/PbTiO3 산화물 인공격자의 전기적 특성 및 scanning force microscopy를 이용한 전기분극효과 연구|The electrical properties of PbZrO3/PbTiO3 oxide artificial lattice and characterization of ferroelectric domain by scanning force microscopy 최택집, 김진수, 박배호, 이봉기, 신현정, 이재찬 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
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원자력 현미경(Scanning Probe Microscopy)을 이용한 표면처리에 따른 ITO ( Indium Tin Oxide) 표면의 전기적 미세구조 및 일함수 관찰|Observation of surface electronic structures and workfunction of ITO ( Indium Tin Oxide ) by surface treatment using SPM ( Scanning Probe Microscopy ) 김찬형, 신현정, 이봉기 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
