| 번호 | 제목 |
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반도체 배선용 Cu(Mg) 박막의 전기적 신뢰성 평가|Characterizations of electrical reliabities in Cu(Mg) film for ULSI interconnects 안정욱, 황상수, 김병희, 박영배, 주영창 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
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여러 가지 low-k 물질의 구리 배선 신뢰성|Cu metallization reliability in various low-k dielectrics 황상수, 이희찬, 정성엽, 주영창 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
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Search for New Gate and Semiconducting Organic Materials for Organic Thin Film Transistor for Flexible Displays : Influence of Gate Dielectric Layer on Mobility 김지아;강지훈;황상수;홍상미;표상우;홍종인;주영창;김영관;윤도영 한국고분자학회 2003년 봄 학술대회 |
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Influence of Gate Dielectric Layer on the Mobility of Organic Thin Film Transistors for Flexible Display 강지훈;김지아;황상수;홍상미;표상우;홍종인;주영창;김영관;윤도영 한국고분자학회 2003년 봄 학술대회 |
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Deposition and Characterization of Pentacene and Soluble Organic Molecules for Organic Thin Film Transistors 강지훈, 홍상미, 황상수*, 김지아, 주영창*, 홍종인, 윤도영 한국고분자학회 2002년 봄 학술대회 |
