| 번호 | 제목 |
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Methodology to Analyze Failure Mechanisms on RF-MEMS Switch Using Nano-Indenter Dong Seok Kim, Seung Deok Ko, Byung Kee Lee, Jun Bo Yoon, Do Kyung Kim 한국재료학회 2010년 봄 학술대회 |
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A Nano-indenter Based Method for Characterization of Contact Reliability in RF-MEMS Switch Dong-Seok Kim, Seung-Deok Ko, Byung-Kee Lee, Jun-Bo Yoon, Do Kyung Kim 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
