| 번호 | 제목 |
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| 4 |
A Study on the Characteristics of wafer Edge Defects 신정원 한국재료학회 2021년 가을 학술대회 |
| 3 |
Polished & Epitaxial Si Wafer에서 Al2O3 MOS Gate Stack 특성 비교 박유민, 김진서, 서형탁 한국재료학회 2015년 봄 학술대회 |
| 2 |
Fabrication of Backside-Illuminated CMOS Image Sensor Using 3-D Interconnect Technologies 표성규 한국화학공학회 2010년 가을 학술대회 |
| 1 |
The Carbon- or Nitrogen-doping Effects on the Bulk Micro Defects Behavior of the Epitaxial Wafer 송도원, 김 효 한국화학공학회 2009년 가을 학술대회 |
