번호 | 제목 |
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1 |
초크랄스키 실리콘 결정 결함 영역의 비파괴 분석 연구|Non-destructive evaluation techniques for Grown-in defects distribution in Czochralski silicon 배기만, 홍병섭, 이보영 한국재료학회 2005년 가을 학술대회 |
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초크랄스키 실리콘 결정 결함 영역의 비파괴 분석 연구|Non-destructive evaluation techniques for Grown-in defects distribution in Czochralski silicon 배기만, 홍병섭, 이보영 한국재료학회 2005년 가을 학술대회 |