| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 1 |
Relationship between the acid diffusion length and line edge roughness in photoresists 김재현, 김영호, 김태성 한국고분자학회 2005년 가을 학술대회 |
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Relationship between the acid diffusion length and line edge roughness in photoresists 김재현, 김영호, 김태성 한국고분자학회 2005년 가을 학술대회 |