번호 | 제목 |
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1 |
Structural reliability evaluation of low-k nanoporous dielectric interlayers integrated into microelectric devices 허규용, 브라이언 지원 리, 이호열, 최경근, 이문호 한국고분자학회 2016년 봄 학술대회 |
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Structural reliability evaluation of low-k nanoporous dielectric interlayers integrated into microelectric devices 허규용, 브라이언 지원 리, 이호열, 최경근, 이문호 한국고분자학회 2016년 봄 학술대회 |