| 초록 |
Fluorine-doped tin oxide (FTO) glass 기판 위에 개선된 화학 용액 증착법 (M-CBD)을 사용하여 산화구리(II) 나노로드를 성장시킨 후 다양한 열처리 온도에 따른 형태학적, 구조적, 광학적 그리고 광전기화학적 특성을 분석하였다. 형태학적 특성 분석을 위해 atomic force microscopy (AFM), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM)를 사용하였고, 구조적 특성과 광학적 특성 분석을 위해 X-ray diffraction (XRD)와 UV-Visible spectroscopy (UV-Vis)를 각각 사용하였다. 그리고 three-electrode potentiostat (PEC)을 사용하여 광전기화학적 특성을 분석하였다. 결과적으로, 산화구리(II) 나노로드는 400°C 의 열처리 온도에서 가장 높은 거칠기를 보였으며, (11-1)과 (200) 면으로의 결정화가 두드러졌다. 본 연구에서 성장된 산화구리(II) 광전극의 최대 광전류 밀도는 -0.5 V (vs. SCE) 에서 1.88 mA/cm2로 측정되었다. |
