학회 | 한국재료학회 |
학술대회 | 2005년 봄 (05/26 ~ 05/27, 무주리조트) |
권호 | 11권 1호 |
발표분야 | 전자재료 |
제목 | AC-PDP 소자용 Sealing Glass 특성에 관한 연구 |
초록 | 부품의 수명은 그 제품의 성능과 직접적으로 관계가 있으며 시편에 가혹조건을 부과하여 고장 모드를 규명하므로써 그 예측이 가능하다. 본 연구에서는 sealing 소자 제조를 위해 PbO-B2O3-ZnO계 저융점 glass frit를 이용하였다. Sealing 소자 제조시 발생되는 crack, 형상 및 치수불량을 제거하기 위해 과립 제조시 binder 함량, 과립 size, 성형압 및 가소온도를 변화시켜 Sealing 소자를 제조하였다. 그 결과 배기공정시 발생되는 sealing 소자의 기포발생 및 퍼짐 불량을 제어할 수 있었고, ring-type 실링소자의 crack 발생을 제거할 수 있었다. Sealing 소자의 형상변화 및 crack 발생에 대한 제조 조건 제어를 통해 실링소자를 제조한 후 열충격을 가한 뒤 leak test를 실시한 결과 5만 시간 이상의 수명을 지닌 sealing 소자를 제조할 수 있었다. |
저자 | 최범진1, 황은석1, 채승진1, 박신서1, 차진선2, 신민철2, 이희수2 |
소속 | 1(주) 센불, 2산업기술시험원 |
키워드 | sealing glass; glass frit |