| 학회 | 한국공업화학회 |
| 학술대회 | 2015년 봄 (04/29 ~ 05/01, BEXCO (부산)) |
| 권호 | 19권 1호 |
| 발표분야 | 나노_포스터 |
| 제목 | 다양한 분석법을 이용한 나노입자의 크기 및 분포 비교 |
| 초록 | 지난 20년간 나노입자의 크기 및 분산도 분석법은 꾸준히 연구되어, 사용의 편의성, 분석시간 단축, 저비용으로 신뢰성 있는 결과를 얻을 수 있는 방향으로 개선되어 왔다. 다양한 특성을 지니고 있는 시료를 분석하기 위해 시료에 알맞은 적절한 입자 크기 분석법이 필요하며, 선택에 따라 실제 값과의 오차가 발생 할 수 있다. 입도 분석법은 원리에 따라 크게 세분류로 나눌 수 있다. 첫째, 현미경법으로 FE-SEM 또는 TEM을 이용하는 방법이며 둘째, 입자의 흐름성에 따라 측정하는 FFF 또는 SEC를 이용 할 수 있으며 마지막으로 입자의 산란을 측정하는 광산란법이 있다. 본 연구에서는 현재 여러 산업분야에서 다양하게 활용되고 있는 NP-Au, SiO2 등의 시료를 FIB-SEM과 DLS&NTA을 이용하여 입도를 분석하고 두 분석법의 차이를 확인하였다. |
| 저자 | 심배선, 박찬욱 |
| 소속 | 말번코리아 |
| 키워드 | Nanoparticle tracking analysis; Dynamic light scattering; Nanogold; |
