| 학회 | 한국공업화학회 |
| 학술대회 | 2006년 가을 (11/10 ~ 11/11, 경희대학교(수원캠퍼스)) |
| 권호 | 10권 2호 |
| 발표분야 | 나노기술 |
| 제목 | XRD intensity로부터 Copper phthalocyanine 입자 특성의 예측 |
| 초록 | Crude Cupc를 attritor, SC-mill 법으로 미분쇄하여 입자의 크기와 결정구조를 비교하였고, 이들 분쇄방법으로 입자의 응집특성을 알아보았다. Cupc는 유기분자로 입자크기를 입도분석기, 전자현미경(SEM), 회절스펙트럼(XRD)로 분석하여 건식분쇄의 최적분쇄점을 예측하여 kneader방법으로 제조한 품질과 동일한 성능의 제품을 제조하였다. 입도분석기을 이용하여 입자특성을 분석한 결과 습식순환볼밀 분쇄에서 90분간 분쇄까지는 평균입경이 감소하여 0.612 ㎛로 측정되었고, 90분 후에는 강한 응집에 의해 입자크기가 더 커지고 입자분포가 넓어지는 것을 확인할 수 있었다. XRD peak intensity를 이용하여 분석하였을 때 분체를 분산할 필요없이 고체상태에서 분석하므로 입자의 응집특성을 240분까지 수치화할 수 있었으며 이를 건식분쇄에 적용하여 최대의 응집점을 찾아서 분쇄의 최적상태를 예측하여 우수한 품질의 프탈로시아닌을 제조할 수 있었다. |
| 저자 | 이학성, 이정세 |
| 소속 | 울산대 |
| 키워드 | XRD intensity; Cu-phthalocyanine; attritor; particle size |
