| 초록 |
광전자 분석기(XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy)는 표면 분석에 널리 쓰이는 장비로, 광전자 검출 및 표면 시료의 청정도를 위해 초고진공 환경이 필요하다. 반응 전후의 시료 표면 조성 및 산화 상태 분석에는 유용하나, 초고진공 환경에서는 반응 중간의 표면 생성물 및 그에 따르는 표면 상태 변화를 관찰할 수는 없다. 그러나 상압광전자분석기(APXPS, Ambient Pressure XPS)의 등장으로, 기상 환경에서 열화학 반응 중 표면 분석을 통해 촉매의 작용 매커니즘을 이해하는 연구가 가능해졌으며, 최근에는 작동 압력 성능이 향상된 상압광전자분석기를 이용하여 수용액 전해질이 존재하는 환경에서 전기화학전극의 표면을 분석하는 연구가 진행되고 있다. 이 발표에서는 상압광전자분석기를 이용한 전기화학 분야의 최신 연구 동향 및 기초과학지원연구원(KBSI, Korea Basic Science Institute)에서 구축하고 있는 상압광전자분석용 전기화학플랫폼 개발 현황에 대해 소개한다. |
