| 학회 | 한국화학공학회 |
| 학술대회 | 2010년 가을 (10/21 ~ 10/22, 대전컨벤션센터) |
| 권호 | 16권 2호, p.1351 |
| 발표분야 | 공정시스템 |
| 제목 | Feature selection for determining surface quality |
| 초록 | 이미지 센서 기술의 발전에 따라, 제폼 표면 품질 판별을 위한 이미지 데이터 수집이 손쉬워 지고 있다. 이미지를 기반으로 한 품질 판별 시스템을 구축하기 위해서는 이미지 분별 알고리듬이 필요하다. 이를 위한 방법 중 wavelet texture analysis는 모델링의 용이함, 성능의 우수함으로 널리 쓰이고 있는 방법이다. 이전의 연구에서 wavelet packet 기반의 wavelet texture analysis가 표면 품질의 판별에 우수한 성능을 보인다는 것이 입증되었다. 본 연구에서는 wavelet texture analysis의 판별 성능을 향상시키기 위한 feature selection기법을 소개한다. 본 방법의 검증은 이전 방법과의 비교를 통하여 이루어졌다. |
| 저자 | 김대연1, 유 준2, 한종훈1 |
| 소속 | 1서울대, 2부경대 |
| 키워드 | surface quality; wavelet texture analysis; best basis |
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| 원문파일 | 초록 보기 |
