| 학회 |
한국고분자학회 |
| 학술대회 |
2003년 봄 (04/11 ~ 04/12, 연세대학교) |
| 권호 |
28권 1호, p.243 |
| 발표분야 |
기능성 고분자 |
| 제목 |
광경화성 고분자의 경화 조건에 따른 광학특성 변화 연구 |
| 초록 |
본 연구에서는 다중모드 POF 적용 waveguide소자에 이용할 수 있는 고분자 재료를 연구하고자 고분자의 굴절율을 변화시키는 인자에 관하여 조사하였다. 광반응성 고분자들의 반응 조건을 변화시키며 경화 속도와 광 경화 후 굴절율의 분포를 조사하였다. Spin coating의 조건에 따라 수십 nm에서 수 μm에 이르는 다양한 두께의 박막을 얻을 수 있었다. Spectroscopic Ellipsometer를 사용하여 두께와 굴절율을 측정하였다. 이러한 결과를 비교하기 위하여 얻어진 박막 중 수 μm 두께의 박막을 Prism Coupling방법으로 굴절율(refractive index) 측정하였다. Prism Coupling방법으로 측정되어진 각 모드(mode)는 역 WKB(invers Wentzel-Kramers-Brillouin)방법으로 해석하여 조건에 따른 refractive index profile을 계산하였다. 광경화시 굴절율 변화에 대한 monomer의 특정 관능기의 변화를 FTIR, FT-Raman을 이용하여 조사하였다.
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| 저자 |
조정환;이원주;송기국 |
| 소속 |
경희대 |
| 키워드 |
POF; Spectroscopic Ellipsometer; Prism Coupling; 굴절율(refractive index)
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