| 학회 | 한국화학공학회 |
| 학술대회 | 2017년 봄 (04/26 ~ 04/28, ICC 제주) |
| 권호 | 23권 1호, p.1033 |
| 발표분야 | 재료 |
| 제목 | 소재 현미경 영상의 정량 분석 |
| 초록 | 현대 현미경 이미징 기술의 발달과 나노 및 재료공학 연구의 비약적인 발전에 따라, 대부분의 과학과 공학에서 현미경을 활용한 연구가 활발히 진행되고 있다. 예를 들어, 재료공학 또는 화학공정에서 나노물질로 만들어진 다기능성 필름(투명전극, 분자 채 분리막 등)의 기계적, 전기적, 광학적 특성은 내부의 미시적인 복잡한 네트워크와 매우 밀접한 관련이 있기 때문에 광학이나 전자현미경으로 얻어진 고배율의 디지털 영상을 이용하여 특성을 평가할 수 있다. 여기에서, 디지털 영상은 숫자로 구성된 행렬이기 때문에 다양한 정량적 접근(대수, 통계, 기계학습, 최적화 등)을 통하여 원하는 정보를 얻어내는데 이용될 수 있다. 본 발표에서는 현미경을 이용한 다양한 재료 분석에 대해서 소개하고자 하고, 이들의 공통적인 정량적 분석 프로토콜에 대해서 제시하고자 한다. 소개하는 재료분석으로는 공초점 광학현미경으로 얻어진 제올라이트 분리막 내 결함의 3차원 구조, 주사전자현미경(SEM)으로 얻어진 투명전극 (나노와이어 네트워크), 그리고 투과전자현미경(TEM)으로 얻어진 transition metal dichalcogenides의 영상들에 대해 원하는 정량적인 정보를 획득하고 해석하는 방법론에 대해서 제시하고자 한다. |
| 저자 | 김동재, 남재욱 |
| 소속 | 성균관대 |
| 키워드 | 화공소재 전반 |
| 원문파일 | 초록 보기 |
