| 학회 | 한국재료학회 |
| 학술대회 | 2019년 가을 (10/30 ~ 11/01, 삼척 쏠비치 호텔&리조트) |
| 권호 | 25권 2호 |
| 발표분야 | 특별심포지엄3. 고성능/친환경 첨단접합소재 및 기술 심포지엄-오거나이저:이성희(목포대) |
| 제목 | 자동차 전장에서의 금속 휘스커 불량해석 연구 동향 |
| 초록 | 자동차 전장에 사용되는 전자부품, 기판, 케이스 등에서 발생하는 금속 휘스커는 Sn과 Zn 휘스커로 알려져 있다. Sn 휘스커에 의한 불량은 이미 1940년대에 보고되었던 문제로, 철이나 세라믹 재료에서 성장하는 휘스커와는 다르게 도금 표면에서 발생하며, 도금 내부에서부터 표면 쪽으로 밀어 올리듯이 성장한다. Sn 휘스커는 전자제품, 자동차뿐만 아니라, 원자로의 오작동, 스페이스 셔틀 제어계의 고장 등 다수의 불량사례가 보고되고 있다. 한편, Zn 휘스커는 전기 도금 강판에서 발생하는 침상의 휘스커로 상온-대기 중을 포함한 각종 온도/습도 분위기 및 응력 하에서 수mm까지 성장할 수 있어, 비산 또는 접촉에 의해 전자기기의 성능에 악영향을 줄 수 있는 것으로 알려져 있다. 금속 휘스커를 평가하는 시험방법은 IPC(Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits), JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council), JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)의 규격에 규정되어 있다. 세 규격은 공통적으로 상온, 대기 중 유지시험, 고온/고습 시험, 온도사이클 시험을 포함하고 있다. 하지만 이들 시험의 경우, 시험에 필요한 기간이 길고, 휘스커 발견방법이 주로 주사전자현미경을 이용하도록 하고 있어, 산업계에서는 단기간에 보다 간편하게 휘스커를 평가할 수 있는 방법에 대한 요구가 커지고 있다. 본 발표에서는 자동차 전장품의 금속휘스커를 평가하기 위한 다양한 검토 결과를 보고하고자 한다. |
| 저자 | 김근수 |
| 소속 | 호서대 |
| 키워드 | Sn whisker; Zn whisker; 85℃/85%RH; Air-HAST; HAST; |
