| 학회 |
한국고분자학회 |
| 학술대회 |
2004년 봄 (04/09 ~ 04/10, 고려대학교) |
| 권호 |
29권 1호, p.256 |
| 발표분야 |
고분자 구조 및 물성 |
| 제목 |
Crystalline structure of polyethylene and polypropylene in thin film |
| 초록 |
비결정성 고분자 박막구조 및 wetting, dewetting 현상에 대한 연구는 많이 이루어져 있으며, 현재도 많은 연구가 이루어지고 있는 분야이다. 반면 결정성 고분자 박막에 대한 연구는 상대적으로 적은 상황이다. 그 이유는 박막구조 연구시 비결정성 고분자 박막에 비하여 결정성 고분자 박막의 경우 결정화 과정 및 결정구조에 대한 고려가 추가로 이루어져야 하기 때문이다. 이에 본 연구에서는 가장 간단한 구조의 결정성 고분자인 폴리에틸렌과 폴리프로필렌 박막을 실리콘 웨이퍼 위에 spin coating하여 수십 나노미터 두께로 제조하고 이를 AFM(Atomic Force Microscopy) 및 방사광 가속기의 강한 X선 광원을 이용한 GIXRD(Grazing Incidence X-ray Diffraction)방법으로 분석하였다. 그 결과 고분자 결정이 bulk와는 달리 특정 방향으로 배향이 되어있음을 확인하였다. |
| 저자 |
우은택, 홍채환, 조재영
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| 소속 |
서울대 |
| 키워드 |
GIXRD; polyethylene; polypropylene; thin film
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| E-Mail |
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