| 학회 | 한국재료학회 |
| 학술대회 | 2005년 가을 (11/10 ~ 11/11, 한양대학교) |
| 권호 | 11권 2호 |
| 발표분야 | 전자재료 |
| 제목 | 양전자 소멸 분광법을 이용한 의료용 증감지 결함 특성 |
| 초록 | 양전자 소멸 분광법을 이용하여 원자 크기 정도 결함의 특성을 조사하였다. 양전자와 전자의 쌍소멸에서 발생하는 511 KeV 감마선 스펙트럼의 수리적 해석 방법인 S-변수를 사용하여, 결함의 정도를 측정하였다. 의료용 X-선 증감지로 병원에서 0, 2, 4, 6년 동안 사용한 증감지를 실험하였다. 각 시료들에서 측정된 S-변수는 0.4932부터 0.4956 정도의 변화를 보였다. 이에 상응하는 실험 방법으로 같은 시료에 X-선의 에너지와 조사시간 즉 6 MV 및 15 MV의 X-선을 사용하여 3, 6, 9, 그리고 12 Gy의 조사량을 변화시키면서 결함의 정도를 측정 비교하였다 |
| 저자 | 이종용1, 김재홍2, 송인성1 |
| 소속 | 1한남대, 2원자력의학원 방사성의약품개발실 |
| 키워드 | 의료용증감지; S-변수; 양전자; 도플러 넓어짐 양전자소멸 분광법; 결함 |
