| 학회 | 한국화학공학회 |
| 학술대회 | 2000년 가을 (10/20 ~ 10/21, 포항공과대학교) |
| 권호 | 6권 2호, p.4813 |
| 발표분야 | 재료 |
| 제목 | PDP 공정에서 표면분석에 의한 Aging Time 단축에 관한 연구 |
| 초록 | 대기중 노출없이 패널 특성을 분석하는 분석시스템의 개발과 외부영향을 최소화하여 봉합패널 내부의 표면물성을 파악해야만 에이징 원인을 예측할 수 있고, 표준화된 공정조건을 제시 할 수 있다. 봉합패널 내부의 표면 변화를 측정해서 에이징 공정을 이해하는 방법은 첫째 각 단계에 의해 제조된 단일 상, 하판의 물리, 화학적 특성을 관찰하고, 둘째 에이징 시간에 따라 제작된 봉합패널의 표면특성을 진공이송하여 분석해서, 두 단계를 비교해서 정확한 에이징 원인과 에이징 시간 단축이라는 과제를 수행할 수 있다. |
| 저자 | 이기형, 소현, 문수현, 김영채, 문세기 |
| 소속 | 한양대 |
| 키워드 | |
| 원문파일 | 초록 보기 |
