| 초록 |
Amorphous 고분자 필름의 연신과정 동안에 고분자사슬의 배향, 및 연신에 의한 결정화 등 복잡한 구조적 변화가 일어난다. 고분자 물질의 물성을 이해하고 제어하려면 이러한 연신과정에서 형성되는 고분자의 배향 및 구조적 변화에 대한 이해가 동반되어야만이 최종적인 구조와 물성과의 상관관계를 확립할 수 있다. 그러나 일반적인 FTIR, WAXS, 굴절률 등 방법을 통하여 관찰할 수 있는 2차원적 배향분석만으로는 연신과정에 동반되는 구조적 특성을 완전하게 이해하기에는 힘들다. Polarized FTIR-Attenuated Total Reflection (ATR)방법은 연신된 고분자 필름의 machine direction(MD)과 transverse direction(TD)의 2차원의 배향 상태에 대한 정보뿐만 아니라 이들 두 방향에 수직한 방향인 normal direction(ND)의 배향 상태에 대한 정보를 관찰할 수 있는 유력한 방법이다. 하지만, PEN이나 PTN같은 시료는reference peak가 존재하지 않으므로 정량적인 FTIR-ATR분석이 불가능하였다. 본 연구실에서는 최근에 이러한 문제를 해결할 수 있는 Multiple Peak Reference (MPR)방법을 새롭게 개발하였으며 본 연구에서 이 방법을 PTN에 적용하여 3차원적 배향분석을 시도하였다. FTIR-ATR을 이용한 연신된PTN필름의 3차원적 배향분석을 통하여 연신과정에서 형성되는 배향 및 구조적 변화와 물리적 특성과의 관계를 확립할 수 있었으며 기타 WAXS, 굴절률법, 밀도측정등 실험결과와 비교 검토하였다.
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