| 학회 | 한국고분자학회 |
| 학술대회 | 2004년 가을 (10/08 ~ 10/09, 경북대학교) |
| 권호 | 29권 2호, p.494 |
| 발표분야 | 고분자 구조 및 물성 |
| 제목 | Surface Orientation of Naphthalene Ring in PTN Film with Temperature-controlled Polarized FTIR-ATR |
| 초록 | Polarized FTIR-ATR은 고분자 필름의 machine direction(MD), transverse direction(TD)과 normal to surface of film direction(ND)방향의 배향에 관한 정보를 관찰할 수 있는 유력한 방법이다. 본 연구에서는 melt-quenched amorphous PTN 필름이 cold crystallization과정에서 naphthalene ring이 필름의 surface에 선택적으로 orientation되는 것을 Temperature-controlled polarized FTIR-ATR방법을 이용하여 관찰하였다. 1604cm-1은 naphthalene ring 평면과 사슬축에 평행인 dipole moment를 가지는 band이며 917cm-1은 ring 평면에 수직인 dipole moment를 가지는 C-H out of plane vibration band이다. 그림 1에 온도의 변화에 따른 1604와 917cm-1의 TM wave와 TE wave에서의 absorbance 비(ATM/ATE)를 각각 나타내었다. 결정화 온도 이전과 용융 온도 이상에서는 1602와 917cm-1 band의 ATM/ATE의 값이 비슷한 값을 가지지만 결정화 구간(110-200℃)에서는 917cm-1의 ATM/ATE의 값은 증가되고 1604cm-1의 ATM/ATE의 값은 감소되는 것이 관찰되었다. 이러한 결과는 naphthalene ring이 결정화과정 중 필름 surface에 선택적으로 orientation되는 것을 의미한다. Flournoy와 Schaffers1에 의한 식을 이용하여 1604cm-1 band의 x,y,z축 방향으로의 상대적인 absorbance를 계산하였다. (그림 2) Fig. 1. ATM/ATE vs Temperature Fig.2. Attenuation index of 1604cm-1 참고문헌: 1. Flournoy, P. A.; Schaffers, W. J. Spectrochimica Acta, 22, 5(1966) |
| 저자 | 양영일1, 박기호1, 김영호2, 이한섭1 |
| 소속 | 1인하대, 2숭실대 |
| 키워드 | FTIR-ATR; PTN; surface; orientation |
