| 학회 | 한국고분자학회 |
| 학술대회 | 2010년 가을 (10/07 ~ 10/08, 대구 EXCO) |
| 권호 | 35권 2호 |
| 발표분야 | 고분자 구조 및 물성 |
| 제목 | Application of real time spectroscopic ellipsometry to thermal responses of polymers |
| 초록 | Spectroscopic ellipsometry 기술은 편광의 반사계수 비(psi)와 위상차(delta)로부터 유기박막의 두께와 굴절율을 분석하는 방법이며, 온도에 따른 고분자 박막소재의 두께와 굴절율을 측정하는 real time 기술을 적용함으로써 소재의 물리적인 특성과 온도에 따른 물성의 변화를 평가할 수 있다. 이러한 분석방법을 통하여 유리전이온도(Tg), 반응온도(Tr), 분해온도(Td) 등을 알 수 있으며, 재료의 열팽창 계수, 수축 현상과 굴절율의 변화의 분석이 가능하다. 본 발표에서는 이러한 spectroscopic ellipsometry 기술이 고분자 분석에 적용된 사례들을 살펴보고자 한다. |
| 저자 | 강연주, 오성준 |
| 소속 | LG화학 기술(연) |
| 키워드 | Ellipsometry; polymer; thin film; transition |
