| 초록 |
나노기술은 정보기술, 생명기술과 더불어 21세기의 새로운 산업을 이끌어 갈 핵심 기술의 하나로 각광받고 있다. 현재 나노기술에 대한 연구는 입자를 합성하는 데 주로 국한되어 있으며, 입자의 생성, 입경분포 및 밀도 등의 특성 연구는 그리 많지 않다. 또한, 합성된 나노입자를 평가하기 위한 방법으로는 거의 대부분 TEM을 이용하거나 일부 AFM을 이용한 분석이 이루어지고 있다. 이러한 방법을 제외하고는 나노입자에 대한 분석이나 제어 기술의 개발에 대한 관심이 매우 적은 실정이다. 나노입자의 입경별 분포, 형태, 밀도 등을 평가하기 위해서는 나노입자의 특성을 계측할 수 있는 방법을 개발해서 정확한 나노 입자의 성상을 파악하는 것이 필요하다. 따라서 본 연구에서는 DMA- PIEZO BALANCE-CPC 장치를 사용하여 대기 중 입자상 물질의 입경별 개수 농도와 중량농도, 밀도등 물리적 특성을 파악하고, 이를 바탕으로 실시간 밀도 측정 system을 개발하여 입자의 밀도와 순도를 파악하고자 한다. |
