| 학회 | 한국화학공학회 |
| 학술대회 | 2010년 가을 (10/21 ~ 10/22, 대전컨벤션센터) |
| 권호 | 16권 2호, p.1426 |
| 발표분야 | 미립자공학 |
| 제목 | Slip Correction factor of nanoparticls at low pressure conditions |
| 초록 | Navier-Stokes Equation 으로부터 Stokes 에 의해 유도된 항력은 Kn(Knudsen number)이 1보다 작은 영역 즉 continuum regime 에서는 보정항이 필요 없지만 Kn이 1보다 큰영역 즉 free molecule regime에서는 gas molecule과 입자의 거동에 변화가 생기기 때문에 이에 대한 보정항이 필요하다. 본 연구에서는 전기영동도 분석장치를 이용하여 기존에 slip correction factor 연구에서 다루지 못한 나노입자를 이용함과 동시에 많은 입자를 통해서 확률적인 오차를줄이고자 하였다.NIST의 PSL 60, 100nm표준입자 와 Duke사의 20nm입자를 사용하여 압력을 낮춘 저압시스템에서 Kn을 변화시키며 Slip correction parameter를 측정하고, 이를 바탕으로 Slip correction factor를 확인하였다. |
| 저자 | 정해성, 김정현 |
| 소속 | 서울시립대 |
| 키워드 | DMA; nanoparticle; PSL |
| 원문파일 | 초록 보기 |
