검색결과 : 2건
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X선 조사에 의해 (Ba, Sr) FBr : Eu 형광 물질에 생성되는 결함 특성 신중기, 이종용, 배석환, 김재홍, 권준현 Korean Journal of Materials Research, 18(8), 427, 2008 |
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Gd2O2S:Tb의 동시 계수 도플러 양전자 소멸법에 의한 결함 특성 이종용, 배석환, 김재홍, 권준현 Korean Journal of Materials Research, 16(7), 455, 2006 |